Pesquisadores da Universidade de Wisconsin-Madison desenvolveram uma nova técnica capaz de medir a temperatura abaixo da superfície de um objeto tridimensional. O método pode gerar uma nova maneira de determinar se semicondutores ou até mesmo reatores nucleares estão quentes demais.
Sensores de temperatura que medem o calor interno de aparelhos conferem a radiação termal que vem da superfície do objeto – quando mais quente, mais radiação é emitida. O novo método, apelidado de termografia de profundidade, consegue se infiltrar na superfície de certos tipos de materiais que são parcialmente transparentes para radiação infravermelha.
Mikhail Kats/Universidade de Wisconsin-Madison
Para desenvolver o método, a equipe de cientistas aqueceu um pedaço de quartzo fundido e analisou com um espectrômetro. Com ajuda de ferramentas computacionais, eles mediram a temperatura em diversas profundidades calculando a radiação termal emitida pelos objetos. Ao inverter o processo, eles usaram um algoritmo para determinar o gradiente de temperatura que se encaixa melhor nos resultados experimentais.
Os pesquisadores dizem que ainda precisam aprofundar estudos, aplicando técnicas a materiais com múltiplas camadas com o objetivo de usar aprendizado de máquina para melhorar o processo.
As potenciais aplicações do sistema são muitas: medir a temperatura de semicondutores, por exemplo, ou até mesmo medir e mapear nuvens de gases e líquidos em alta temperatura. O método poderia ser aplicado em reatores nucleares e ainda substituir as ferramentas atuais, que podem não sobreviver muito tempo quando expostas a temperaturas acima de 700 graus Celsius.
O estudo foi publicado na revista científica ACS Photonics.
Via: Phys.org
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